Семинар «Технологии National Instruments для автоматизации тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов»

Компания National Instruments приглашает принять участие в техническом семинаре, посвященном разработке автоматизированных систем тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов.

• Время проведения: 15 сентября 2016 года, начало в 09:00.
• Место проведения: Москва, гостиница «Рэдиссон Славянская» (пл. Европы, д. 2) конференц-зал «Пушкин/Чехов»

Темы семинара:

• Платформа NI PXIe и современные технологии тестирования радиоэлектронной аппаратуры.
• Платформа автоматизации измерений и тестирования NI PXIe — новые продукты и направления развития.
• Подходы к разработке и архитектуре построения тестовых систем.
• Типовые решения в области параметрического тестирования низкочастотной и СВЧ РЭА.
• Методы создания систем функционального контроля РЭА.
• NI STS — новейшее семейство тестеров электронных компонентов.
• Организация испытательных лабораторий по тестированию электронных компонентов (ЭКБ).
• NI STS — новое семействе тестеров ЭКБ от National Instruments.
• Использование NI STS в задачах тестирования аналоговой, цифровой и смешанной ЭКБ.
• Использование NI STS в задачах тестирования СВЧ ЭКБ.
• Опыт применения аппаратуры NI PXI в задачах тестирования ЭКБ на воздействие спецфакторов.

В программу семинара включены выступления российских пользователей тестовых систем NI PXIe, а также партнеров компании по разработке и внедрению таких систем под ключ. Участие в мероприятии бесплатное, по предварительной регистрации.

Подробная программа семинара и регистрационные формы доступны на сайте.

По вопросам участия обращаться:

Евгения Кургузова

e-mail: info.russia@ni.com,
evgenia.kurguzova@ni.com
тел.: (495)-783-68-51,
факс: (495)-783-68-52