Итоги XVI международной выставки Testing & Control и Всероссийской научной конференции «Измерения. Испытания. Контроль»

Итоги XVI международной выставки Testing & Control и Всероссийской научной конференции «Измерения. Испытания. Контроль»Выставка проводилась 22–24 октября в Москве, в МВЦ «Крокус Экспо», павильон 1, зал 3. В выставке приняли участие 97 компаний, выставочную экспозицию посетил 10 151 специалист, включая посетителей выставок PCVExpo, NDT Russia, Heat & Power, ExpoCoating Moscow, Power Electronics, FastTec, проходящих одновременно с Testing & Control. Всероссийская научная конференция «Измерения. Испытания. Контроль», посвященная методам, средствам, метрологическому обеспечению исследований, испытаниям и эксплуатации изделий в различных отраслях промышленности, собрала ведущих российских ученых. Актуальные темы раскрыли 28 спикеров, сессии посетили 272 делегата.

97 компаний из 10 стран мира представили на Testing & Control  свыше 300 брендов оборудования. В числе экспонентов — производители и поставщики из России, Германии, Китая, Чехии, Лихтенштейна, Швейцарии, Японии, Бельгии, Турции, Франции.

Экспоненты продемонстрировали испытательное, контрольно-измерительное, лабораторное оборудование, решения для неразрушающего контроля и технической диагностики.

В «Открытой зоне презентаций» прошли семинары и мастер-классы, на которых были представлены продукты и решения от компаний ZETLAB, «СЕРТЕК», «ОКТАВА+», Shimadzu Europa GmbH, «Миллаб», Vibration Research, Liangong, «Акустические системы» и других предприятий. Спонсором зоны презентаций выступила компания Mitutoyo Corp.

Всероссийская научная конференция «Измерения. Испытания. Контроль» проходила 22–24 октября в МВЦ «Крокус Экспо».

Конференцию открыла пленарная панель «Контрольно-измерительное и испытательное оборудование: состояние и направления развития». Участники обсудили совершенствование нормативной правовой базы в области обеспечения единства измерений, систему обеспечения единства измерений, реализацию метрологического обеспечения ракетно-космической техники, осветили проблемы метрологического обеспечения современных технологических систем машиностроения, проведение метрологической экспертизы технической документации на промышленных предприятиях.

Вопросы развития метрологии, измерений и испытаний РКТ для повышения качества и надежности, достигнутые результаты и существующие проблемы, рекомендации по дальнейшему развитию, организационные и технические проблемы измерений и испытаний в РКП были подняты в рамках специальной секции госкорпорации «Роскосмос».

Авиационная секция была посвящена метрологическому обеспечению и обеспечению единства измерений, снижению метрологических рисков негативных ситуаций на стадии проектирования, производства, испытаний, сертификации, а также технической эксплуатации авиационной техники.

Второй день конференции начался с обсуждения вопросов метрологического обеспечения, стандартизации и сертификации в машиностроении и на транспорте. Модератором секции стал А. В. Карпычев, Российский университет транспорта (МИИТ). О. Б. Бавыкин, Московский политехнический университет, осветил вопросы необходимости подготовки специалистов в области стандартизации, метрологии и сертификации в Московском политехническом университете. И. В. Крупенников, «АЙКЬЮБ Технологии», рассказал о возможностях использования современных 3D-сканеров и привел примеры их внедрения в промышленности. В. Г. Лысенко, ФГУП «ВНИИМС», затронул вопросы состояния и перспектив развития системы обеспечения единства измерений геометрических параметров обработанных поверхностей в прецизионном машиностроении и на транспорте. В. И. Пронякин, МГТУ им. Н. Э. Баумана, выступил с докладом об информационно-метрологических технологиях в машиностроении.

Как воспитать и подготовить метрологические кадры, соответствуют ли образовательные стандарты потребностям современной российской науки и промышленности, какие потребности существуют в подходах к системе обучения, какие условия должны быть приняты для практического взаимодействия образовательных учреждений и предприятий — эти и другие вопросы эксперты обсудили в рамках круглого стола «Потребности в подготовке кадров в области обеспечения единства измерений».

В третий день, в рамках заключительной конференции, эксперты подняли вопросы развития инновационной метрологической инфраструктуры, а также совершенствования и реализации единиц СИ в соответствии с новыми определениями.

Новые эталоны и новые принципы эталонов величин, темы обеспечения единства измерений в соответствии с новыми определениями, их преимущества и недостатки обсудили эксперты на дискуссионной сессии «Фундаментальные основы метрологии и новые определения Международной системы единиц — СИ».

17-я Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control пройдет 27–29 октября 2020 года в Москве, в МВЦ «Крокус Экспо».

Официальный сайт.

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован.