Для разработчиков и компаний, занятых внедрением устройств IoT, проблемы возрастают по мере перехода с уровня компонентов на уровень схем и затем систем. Какие инструменты и решения им доступны? Какие соображения по тестированию могут помочь сократить время на разработку и развертывание и сэкономить общие затраты? В материале, опубликованном в приложении IIoT, были описаны возможные проблемы и причины их возникновения [1]. В этой статье рассмотрены их решения.